发明专利号：200810010370.8

多功能样品架
　　随着材料研究的深入，越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射仪进行性能分析。在测角仪上安装多功能样品架可以进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试，每一种测试功能都有相应的计算软件。
　　碾轧板（铝、铁、铜板等）织构测量及评价
　　金属、陶瓷等材料残余应力测量
　　薄膜样品晶体优先方位的评价
　　大分子化合物取向测量

　　多功能样品架用于织构样品测量，软件计算后分别绘制出极图、反极图、ODF图。
　　多功能样品架用于宏观应力样品测量，在-30-90°内设置几点Psi角度，使样品倾斜相应角度。在不同的Psi角度下，分别测量指定晶面的角度偏移量，计算出测量样品的宏观应力。