交叉光学（B&P）系统是X射线衍射仪发展过程中突破性技术进步，即衍射仪测角仪两套光学系统并存，软件控制,实现在发散光学系统（B）与平行光学系统（P）相互切换，满足不同测试目的需要，拓展衍射仪应用领域。

     发散光学系统（B）：用于常规的材料结构分析，物相定性、定量分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、衍射线条指标化、无标样定量分析等功能。

     平行光学系统(P)：由X射线多层膜反射镜将发散光聚焦成平行光束，平行光束发散度小于0.5mrad。与三维样品架配合，实现对大于200nm薄膜样品测量。可实现对薄膜样品进行薄膜反射分析XRR(针对多晶、单晶多层薄膜厚度、密度、粗糙度进行精确分析）、薄膜掠入射分析GIXRD(精确分析多层膜中材料的组成、次序、取向等)。

     可适用于：DX-2700系列、DX-2800X射线衍射仪。