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Rietveld

Rietveld 分析
  在1969年H.M.Rietveld提出的全谱拟合结构精修是晶体材料结构分析极具价值的方法。可获得样品各种结构信息包括:物相含量,物相结构、晶胞参数、晶体尺寸等。与传统定量方法相比,Rietveld分析是最先进的,并且无需标准样品即可得到含量在1%以内物相的精确结果。在此之前,使用粉末衍射进行混合样品无标精确定量分析是不可能的。


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