X射线探测器系列化

线性探测器
　　正比探测器、闪烁探测器
　　使用时需要配置单色器，有效去掉Kβ线。
　　最大线性计数：≥5×10⁵CPS
　　能谱分辨率：正比≤25%、闪烁≤50%。

SDD硅漂移探测器
　   探测器型号是：MYTHEN2 1D detector 由瑞士 DECTRIS Ltd.生产。

      DX系列衍射仪配置MYTHEN2 1D detector后可以选择使用0D或是1D测量方式，0D测量方式满足低角度（0°开始）测量需求，1D测量方式实现对样品快速（36°/分）测量。

半导体线阵探测器
　　由640个探测器组成的一维半导体陈列探测器，相比传统的闪烁或正比探测器可以提高衍射强度120倍以上，在较短时间内，获取高灵敏度、高分辨率完整的衍射谱图，并且还有非常好的去荧光能力，即使是测量强荧光的样品，一维半导体陈列探测器提供的数据也展示出非常好的信噪比。
　　最大线性计数：≥9×10⁹CPS，能谱分辨率：≤25%；有高计数模式及去除荧光背景两种工作模式。

高速阵列探测器

       探测器型号是： MiniPIX 60K 由捷克航空实验室制作，有效面积14×14mm、像素尺寸55µm、像素数量256×256、每个像素线性计数值3×10⁶。

      DX系列衍射仪配置MiniPIX 60K后可以选择使用0D或是1D或是2D测量方式，0D测量方式满足低角度（0°开始）测量需求；1D测量方式实现对样品快速（36°/分）测量；2D测量方式用拍照方法获取2θ角3度范围衍射环，直观观察到晶面取向的信息。

半导体阵列探测器Si样品衍射谱图

DX系列衍射仪可以同时配置多种探测器，由衍射仪控制软件选择使用。